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PD-10 型干粉分散儀可以完成對(duì)于粒度范圍在 0.1-2500微米范圍內(nèi)的粉體顆粒進(jìn)行分散，最終在載波片上形成一 個(gè)均勻的單層顆粒分散結(jié)果，方便后續(xù)放置于粒度分析 儀，光學(xué)顯微鏡或者電子顯微鏡下進(jìn)行粒度測(cè)試或者觀(guān)察專(zhuān)業(yè)干粉分散儀器
CPS高精度納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測(cè)量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤(pán)將顆粒在液體介質(zhì)里分離開(kāi)。顆粒在的沉降穩(wěn)定過(guò)程是由于液體介質(zhì)中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統(tǒng)方法，通過(guò)差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。
顆粒圖像分析儀激光光阻法測(cè)定樣品的粒度以及粒形；3、激光、視頻雙通道，無(wú)需設(shè)置樣品的折射系數(shù)及其他光學(xué)指標(biāo)眼見(jiàn)為實(shí)；4、多種測(cè)量池可選，可以直接測(cè)量氣體，纖維、混合物滿(mǎn)足多種特殊應(yīng)用的測(cè)定。
美國(guó)的Zeta-Meter 4.0+ 系列Zeta電位儀是30年前，早開(kāi)發(fā)的一種簡(jiǎn)捷可靠的儀器來(lái)測(cè)定電泳趟度和Zeta電位。我們的Zeta-Meter System4.0延續(xù)了這個(gè)傳統(tǒng)、使檢測(cè)更加方便。該系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)是可測(cè)濃度很高，zg為80%質(zhì)量含量而且工作范圍廣（5-75℃），此外還可以通過(guò)顯微鏡或視頻兩種手段測(cè)量樣品的圖像、了解樣品的真實(shí)狀態(tài)。
CPS納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測(cè)量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤(pán)將顆粒在液體介質(zhì)里分離開(kāi)。顆粒在的沉降穩(wěn)定過(guò)程是由于液體介質(zhì)中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統(tǒng)方法，通過(guò)差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。
1、激光粒度粒形分析儀；$n2、激光光阻法測(cè)定樣品的粒度以及粒形；$n3、激光、視頻雙通道，無(wú)需設(shè)置樣品的折射系數(shù)及其他光學(xué)指標(biāo)眼見(jiàn)為實(shí)；$n4、多種測(cè)量池可選，可以直接測(cè)量氣體，纖維、混合物滿(mǎn)足多種特殊應(yīng)用的測(cè)定。
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