納米粒度儀及zeta電位分析儀
原理：超聲法
檢測范圍：5 nm至1000um
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點(diǎn)：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式，準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn)；
3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
5）可準(zhǔn)確測量無水體系；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；
7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；
8）具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
3)不需定標(biāo)；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
